VersaSCAN微區掃描電化學工作站
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VersaScan微區掃描電化學工作站是(shì)一(yī / yì ／yí)個(gè)建立在(zài)電化學掃描探針的(de)設計基礎上(shàng)的(de)，進行超高測量分辨率及空間分辨率的(de)非接觸式微區形貌及電化學微區測試系統。它是(shì)提供給電化學及材料測試以(yǐ)極高空間分辨率的(de)一(yī / yì ／yí)個(gè)測試平台。每個(gè)VersaSCAN都具有高分辨率，長工作距離的(de)閉環定位系統并安裝于(yú)抗震光學平台上(shàng)。不(bù)同的(de)輔助選件都安裝于(yú)定位系統上(shàng)，輔助選件包括，如電位計，壓電振動單元，或者激光傳感器，爲(wéi / wèi)不(bù)同掃描探針試驗，定位系統提供不(bù)同的(de)功能。VersaSTAT恒電位儀和(hé / huò)Signal Recovery 7230鎖相放大(dà)器和(hé / huò)定位系統整合在(zài)一(yī / yì ／yí)起，由以(yǐ)太網來(lái)控制，保證小信号的(de)精确測量。
它是(shì)一(yī / yì ／yí)個(gè)模塊化配置的(de)系統，可以(yǐ)實現如下現今所有微區掃描探針電化學技術以(yǐ)及激光非接觸式微區形貌測試：
Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 掃描電化學顯微鏡
-AC-SECM 無氧化還原介質掃描電化學顯微鏡
-Stylus-Probe 柔性探針技術-等距離掃描電化學顯微鏡
Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 掃描振動電極測試
Scanning Kelvin Probe (SKP) 掃描開爾文探針測試
Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微區電化學阻抗測試
Scanning Droplet Cell (SDC) 掃描電解液微滴測試
Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非觸式光學微區形貌測試
Ion Selective Probe (ISP) 表面離子(zǐ)濃度成像系統
以(yǐ)上(shàng)每項技術使用不(bù)同的(de)測量探針，且安裝位置與樣品非常接近，但是(shì)不(bù)接觸到(dào)樣品。随着探針測試的(de)進行，改變探針的(de)空間位置。然後将所記錄的(de)數據對探針位置作圖，針對不(bù)同技術，該圖可以(yǐ)呈現微區電化學電流，阻抗，相對功函或者是(shì)表面形貌圖。
VersaSCAN SECM
Scanning ElectroChemical Microscopy 掃描電化學顯微鏡系統
VersaSCAN SECM 整合了(le／liǎo)定位系統、兩台VersaSTAT恒電位儀和(hé / huò)錐形抛光的(de)超微電極探針爲(wéi / wèi)一(yī / yì ／yí)體。SECM多樣化的(de)技術提供了(le／liǎo)高空間分辨率，可應用于(yú)反應動力學，生物傳感器，催化劑和(hé / huò)腐蝕機理等研究。
兼容恒電位儀: VersaSTAT 3F 和(hé / huò)VersaSTAT 3/3F/4。
可進行逼近曲線實驗包含“反饋”模式和(hé / huò)“發生-采集”模式兩種成像模式。
結合了(le／liǎo)表面形貌測量技術，如典型的(de)如非接觸式微區形貌掃描系統OSP，可進行樣品表面定距離掃描，
VersaSTATs 配置不(bù)同功能的(de)操作軟件，能夠提供強大(dà)的(de)成套的(de)非掃描電化學測試，取決于(yú)其特有的(de)軟件模式。
VersaSCAN SVET
Scanning Vibrating Electrode Technique 掃描振動電極測量系統
VersaSCAN SVET 整合了(le／liǎo)定位系統及鎖相放大(dà)器技術(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 壓電振動模塊, 電位計和(hé / huò)單絲探針。 SVET技術測量溶液中的(de)電壓降。電解液中的(de)電壓降是(shì)由樣品表面的(de)局部電流所導緻的(de)。 SVET提供高分辨率可應用于(yú)不(bù)均勻腐蝕，點蝕，焊接和(hé / huò)電耦合等。此外，SVET還有生物方面的(de)應用。
鎖相放大(dà)器: Signal Recovery 7230
可進行線掃描和(hé / huò)面掃描
當設定不(bù)同的(de)測量時(shí)間測量，可進行時(shí)間分辨成像
結合了(le／liǎo)表面形貌測量技術，如典型的(de)如非接觸式微區形貌掃描系統OSP，可進行樣品表面定距離掃描，
VersaSCAN LEIS
Localized Electrochemical Impedance System微區電化學阻抗測試系統
VersaSCAN LEIS 整合了(le／liǎo) 定位系統和(hé / huò)VersaSTAT 3F 及差分電壓選項, 靜電計，雙探頭探針。 LEIS技術是(shì)通過測量施加于(yú)樣品的(de)交流電壓和(hé / huò)由探針所測量的(de)溶液中交流電流的(de)比值，來(lái)計算局部阻抗，LEIS加入高的(de)空間分辨率，可應用于(yú)有機塗層，裸露的(de)金屬腐蝕，和(hé / huò)所有和(hé / huò)增加的(de)交流技術相關的(de)應用。
恒電位儀：VersaSTAT 3F及差分輔助選項
可進行固定頻率/掃描位置的(de)數據成像，和(hé / huò)固定位置/掃描頻率的(de)Bode圖或者Nyquist圖。
當設定不(bù)同的(de)測量時(shí)間測量，可進行時(shí)間分辨成像
結合了(le／liǎo)表面形貌測量技術，如典型的(de)如非接觸式微區形貌掃描系統OSP，可進行樣品表面定距離掃描，
VersaSCAN SKP
Scanning Kelvin Probe 掃描開爾文探針系統
VersaSCAN SKP整合定位系統及鎖相放大(dà)器技術(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 壓電振動模塊, 電位計和(hé / huò)鎢絲探針。SKP 技術測量探針和(hé / huò)樣品表面位置的(de)相對功函差。這(zhè)是(shì)一(yī / yì ／yí)個(gè)非破壞的(de)技術，可運行于(yú)環境氣氛，潮濕氣氛和(hé / huò)無電解液情況下。相對功函已經被證實與腐蝕電位 (Ecorr)相關。SKP 提供的(de)高空間分辨率可應用于(yú)材料，半導體，金屬腐蝕，甚至這(zhè)些材料上(shàng)的(de)塗層。
鎖相放大(dà)器: Signal Recovery 7230
可進行表面形貌測量，測量和(hé / huò)設置探針和(hé / huò)樣品間的(de)距離。
使用同一(yī / yì ／yí)探針，結合所進行的(de)表面形貌測量，進行樣品表面定距離掃描。
VersaSCAN SDC
Scanning Droplet Cell電解液微滴掃描系統
VersaSCAN SDC 整合電位系統和(hé / huò)一(yī / yì ／yí)台VersaSTAT, 一(yī / yì ／yí)個(gè)機械加工的(de)PTFE 滴液系統頭, 以(yǐ)及一(yī / yì ／yí)個(gè)蠕動泵。SDC 技術對電解液微滴進行電化學測量, 固定電極/電解液界面的(de)面積。SDC提供高空間分辨率可應用于(yú)動力學，腐蝕，流體研究和(hé / huò)任何研究樣品表面微小面積而(ér)無需破壞樣品的(de)應用或者控制面積在(zài)不(bù)同電解液中的(de)暴露時(shí)間的(de)應用。
恒電位儀: VersaSTAT 3 / 3F /4
可進行恒定電化學參數/位置掃描的(de)數據成圖和(hé / huò)固定位置/動态信号的(de)繪圖，如循環伏安，塔菲爾, 電化學交流阻抗等。
可運行流動或者是(shì)靜止的(de)電解液液滴。
VersaSCAN OSP
Non-Contact Optical Surface Profiling
非觸式光學微區形貌測試系統
VersaSCAN OSP整合定位系統和(hé / huò)高精度，高速度激光位移傳感器。 OSP 技術使用漫反射機理用于(yú)樣品的(de)表面形貌。OSP可作爲(wéi / wèi)非常靈敏水平的(de)機制用于(yú)表面形貌測量，，或繪制地(dì / de)形圖與其它掃描探針技術一(yī / yì ／yí)起應用于(yú)樣品表面定距離掃描測試。
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