電化學知識

　　電化學熒光探針-SECM/熒光顯微鏡聯用

　　近日，法國(guó)巴黎薩克雷大(dà)學(Universtsité Paris-Saclay)Fabien Miomandre教授團隊，開創性的(de)将普林斯頓VersaSCAN微區掃描電化學系統超高空間分辨SECM技術與時(shí)間分辨倒置熒光顯微鏡進行聯用， 成功的(de)用于(yú)調控和(hé / huò)研究溶液中四嗪衍生物的(de)氧化還原态，及其電化學熒光變色行爲(wéi / wèi)。

　　歸一(yī / yì ／yí)化的(de)熒光強度差異-“開”和(hé / huò)“關”的(de)狀态可以(yǐ)由探針的(de)電位和(hé / huò)探針-樣品距離進行調控。首次成功展示了(le／liǎo)，冷光壽命可以(yǐ)被調制，并證實了(le／liǎo)發光強度的(de)下降是(shì)由電荷的(de)淬滅過程引起。 實驗結果顯示，電荷淬滅歸結爲(wéi / wèi)受激發的(de)熒光團和(hé / huò)電生陰離子(zǐ)自由基之(zhī)間的(de)電荷轉移反應 。混合的(de)動态和(hé / huò)靜态的(de)淬滅機理可用于(yú)拟合熒光強度和(hé / huò)壽命的(de)比例對庫倫電荷的(de)變化。靜态淬滅的(de)相關性由密度泛函數(DFT)進行驗證。分别測試了(le／liǎo)絕緣玻璃和(hé / huò)導電ITO上(shàng)的(de)逼近曲線，基于(yú)熒光壽命調制的(de)光學逼近曲線，相比基于(yú)電流的(de)單電化學信号更靈敏。最後，數學模型也(yě)很好的(de)驗證了(le／liǎo)這(zhè)些光學的(de)逼近曲線，證明了(le／liǎo)電荷淬滅過程對熒光強度和(hé / huò)壽命變化的(de)影響。

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　　Time-Resolved Fluorescence Microscopy Combined with Scanning Electrochemical Microscopy: A New Way to Visualize Photo-Induced Electron Transfer Quenching with an Electrofluorochromic Probe，

　　J. Phys. Chem. C，2020,124,43,2